BCP-01 單片機開發應用技術綜合實驗裝置

一、單片機開發應用技術綜合實驗裝置概述
    本裝置由控制屏、實驗掛箱、實驗桌組成，通過本實驗臺可完成單片機的接口擴展、數據采集、數據顯示、鍵盤控制、定時器、打印機接口等實驗，配備有仿真器。
    設有電流型漏電保護器，控制屏若有漏電現象，漏電流超過一定值，即切斷電源，對人身安全起到一定的保護。    裝置采用組件式結構，更換實驗模塊便捷。如需擴展功能或開發新實驗，只需添加實驗模塊掛箱即可，永不淘汰。
二、單片機開發應用技術綜合實驗裝置主要技術參數
1、輸入電源：AC220V±10%  50Hz
2、工作環境：溫度-10℃~+40℃  相對濕度＜85%（25℃）
3、裝置容量：200VA
4、重量：100Kg
5、外形尺寸（cm）：160×75×150
6、掛箱尺寸（mm）：410×240×60
7、輸出電源：有漏電、短路、過流保護
  A．~220V，通過安全插座輸出
  B．直流穩壓電源：±5V/1A  ±12V/2A
三、單片機開發應用技術綜合實驗裝置構成
（一）實驗屏：實驗時放置實驗掛箱，并提供實驗電源，鐵質雙面亞光密紋噴塑結構。
（二）實驗桌：鋼木結構，桌面為防火、防水、耐磨高密度板，電腦桌連體設計，造型美觀大方。
（三）實驗模塊：
1、DP-­01 單片機實驗掛箱（一）
LED點陣顯示模塊、點陣式字符液晶顯示模塊、8253定時計數器、A/D轉換、D/A轉換、V/F轉換、F/V轉換、串引EEPROM、EEPROM、Flash Rom、SRAM、I2C總線接口
2、DP-­02 單片機實驗掛箱（二）
8251串行口擴展、232總線串行接口、單片機小應用系統1、單片機小應用系統2、拔碼開關輸出
3、DP-­03 單片機實驗掛箱（三）
ISD 1420語音控制、IC卡讀寫接口、實時時針/日歷、USB接口、RS232轉RS485接口
4、DP-­04 單片機實驗掛箱（四）
8279接口電路、8255 I/O擴展、8155 I/O擴展、動態掃描顯示模塊、轉換接口、MC14433、整列式鍵盤實驗模塊
5、DP-­05 單片機實驗掛箱（五）
步進電機驅動程序示列、溫度傳感器與溫度控制、汽車轉彎信號燈/十字路口交通燈、數字頻率計、看門狗
6、DP-­06 單片機實驗掛箱（六）
十六位邏輯電平顯示、繼電器控制接口、常用器件接口、八位邏輯電平輸出、單次脈沖、揚聲器、串引靜態顯示模塊、查詢式鍵盤。
7、DP-­07 單片機實驗掛箱（七）
主功能邏輯筆、多功能密碼鎖、直流電動機驅動、步進電機驅動、微型打印機與單片機的接口
8、DP-­08 單片機實驗掛箱（八）
單片機與CPLD實驗、sh51仿真器
四、單片機開發應用技術綜合實驗裝置基本實驗內容
1．存儲器塊清零
2．二進制到BCD碼轉換
3．二進制到ASCII碼轉換
4．程序跳轉表
5．內存塊移動
6．數據排序
7．P1口輸入、輸出實驗
8．繼電器控制實驗
9．用74LS244讀入數據
10．用74LS273輸出數據
11．串行數據轉換并行數據
12．并行數據轉換串行數據
13．PWM轉換電壓實驗
14．音頻控制實驗
15．8255輸入、輸出實驗
16．8155輸入、輸出實驗
17．5LED靜態串行顯示實驗
18．6LED動態掃描顯示實驗
19．查詢式鍵盤實驗
20．陣列式鍵盤實驗
21．計數器實驗
22．定時器實驗
23．8253定時器實驗
24．外部中斷實驗
25．串行口通訊實驗
26．ADC0809模數轉換實驗
27．DAC0832數模轉換實驗
28．MC14433模數轉換實驗
29．EEPROM外部數據程序存儲器實驗
30．SRAM外部數據存儲器擴展實驗
31．93C46串行EEPROM數據讀寫實驗
32．電子時鐘實驗
33．電子琴模擬實驗
34．打印機控制實驗
35．汽車轉彎信號燈控制實驗
36．溫度傳感器溫度控制實驗
37．溫度過程控制模擬實驗
38．五相步進電機模擬實驗
39．計算器實驗
40．數字頻率計實驗
41．V/F轉換實驗
42．F/V轉換實驗
43．LED點陣顯示實驗
44．字符液晶顯示屏控制實驗
45．8279鍵盤掃描顯示實驗
46．看門狗實驗
47．8251串行口擴展通訊實驗
48．I2C總線讀寫實驗
49．RS232轉RS485實驗
50．USB接口實驗
51．十字路口交通燈控制實驗
52．五功能邏輯筆實驗
53．直流電機驅動調速實驗（實物）
54．步進電機驅動實驗（實物）
55．IC卡讀寫實驗
56．實時時鐘/日歷控制實驗
57．語音芯片控制實驗
58．單片機與CPLD實驗
59．8051與PC機串行口通訊實驗
60．Flash Rom外部程序存儲器實驗
61．多(duo)功能密碼鎖(suo)實(shi)驗